FA耦合面測量

  ICC訊 45°FA利用端面全反射使光路90°轉角與VCSEL或者PD耦合，這種方法耦合效率高，但苦于45°端面研磨工藝有較大難度，工藝制造成本高，生產良率不高。

  光纖轉90°FA通常與硅光芯片中的光柵進行耦合，不過直接對準耦合，會存在一定的角度失配，盡管國內廠商經過這幾年的努力與克服，已有不少廠家能夠批量制造提高良率，但FA耦合面檢測一直是通信行業(yè)所關注的熱點話題。

OLI光纖微裂紋檢測儀

  FA耦合一般都是在一些很小的尺寸里面，例如光器件、光模塊、硅光芯片等等，這些器件級的檢測對設備要求非常高。OLI光纖微裂紋檢測儀，專門針對這種微小尺寸的檢測，空間分辨率高達10微米，能實現芯片內部結構可視化。

OLI測量FA耦合面

  多芯FA耦合面測量，測試結果顯示該耦合位置回損為-62dB，耦合情況良好。

  昊衡科技推出的OLI光纖微裂紋檢測儀，能精準定位器件內部斷點、微損傷點、耦合面以及鏈路連接點，以亞毫米級別分辨率探測光學原件內部，廣泛用于光器件、光模塊損傷檢測以及產品批量出貨合格判定。

  昊衡科技

  Megasense

  一家集研發(fā)、生產、銷售于一體的高科技公司，專業(yè)從事工業(yè)級自校準光學測量與傳感技術開發(fā)，也是一家實現OFDR技術商用化的公司。目前，昊衡科技已推出多款高精度高分辨率產品，主要應用于光學鏈路診斷、光學多參數測量、高精度分布式光纖溫度和應變傳感測試。已與全球多個國家和地區(qū)企業(yè)建立良好的合作關系，并取得諸多成果。電話：027-87002165官網：http://www.mega-sense.com/公眾號：“昊衡科技”或“大話光纖傳感”