昊衡科技-光纖微裂紋檢測(cè)儀適用于產(chǎn)線的多通道測(cè)試

  ICC訊 單通道能否滿足產(chǎn)線測(cè)試呢?顯然是不能的。以光模塊廠家為例，一個(gè)光模塊可能有多個(gè)通道，每個(gè)通道都需要檢測(cè)。使用單通道測(cè)試，一個(gè)器件就需要反復(fù)插拔多次、掃描多次、保存多次結(jié)果，這樣效率太低了，顯然產(chǎn)線不會(huì)接受這種方式。OLI支持產(chǎn)線多通道測(cè)試，一次就能掃描完一個(gè)光模塊，極大節(jié)省測(cè)試時(shí)間。

  當(dāng)前OLI(光纖微裂紋檢測(cè)儀)標(biāo)準(zhǔn)版支持12通道測(cè)試，用戶也可根據(jù)需求定制更多通道。設(shè)備外接多通道光開(kāi)關(guān)，測(cè)試時(shí)光開(kāi)關(guān)自動(dòng)切換，設(shè)備掃描不同通道，光開(kāi)關(guān)切換時(shí)間在毫秒量級(jí)，可忽略不計(jì)。同時(shí)設(shè)備會(huì)自動(dòng)保存數(shù)據(jù)和圖片，還配有閾值判定功能，可用來(lái)記錄異常數(shù)據(jù)值，用戶即可知道器件是否合格，閾值判定功能后續(xù)會(huì)專門進(jìn)行介紹。

圖1：OLI多通道連接示意圖

圖2.8通道測(cè)試結(jié)果

  光纖微裂紋檢測(cè)儀其原理基于白光干涉，通過(guò)讀取最終干涉曲線的峰值大小，精確測(cè)量整個(gè)掃描范圍內(nèi)的回波損耗，進(jìn)而判斷此測(cè)量范圍內(nèi)鏈路的性能。OLI(光纖微裂紋檢測(cè)儀)提供多通道測(cè)量，意味著OLI將從實(shí)驗(yàn)室走向產(chǎn)線，成為客戶產(chǎn)品出貨前的檢測(cè)儀器，提高產(chǎn)品出貨良品率。

      OLI應(yīng)用場(chǎng)景

  光纖微裂紋檢測(cè)

  光器件、光模塊測(cè)量

  硅光芯片測(cè)量

  PLC波導(dǎo)瑕疵損耗檢測(cè)

  FA光纖陣列鏈路性能檢測(cè)