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光子集成回路Wafer Level Test網(wǎng)絡(luò)研討會(演講視頻分享)

摘要:近日,日立高新技術(shù)集團分享此前由ficonTEC公司主辦、日立高新技術(shù)集團旗下的VLC Photonics S.L.公司參與的主題為 "PIC Testing with Wafer-level Test Systems" 的網(wǎng)絡(luò)研討會錄制視頻,介紹了VLC Photonics S.L.如何使用ficonTEC公司的測試設(shè)備提供PIC測試服務(wù)。

 ICC訊  近日,日立高新技術(shù)公司主頁上登載了由ficonTEC公司主辦、日立高新技術(shù)集團旗下的VLC Photonics S.L.公司參與的網(wǎng)絡(luò)研討會。

  這場網(wǎng)絡(luò)研討會時常30分鐘左右,歡迎點擊觀看。


  這場主題為 "PIC Testing with Wafer-level Test Systems" 的網(wǎng)絡(luò)研討會于去年舉行,其中介紹了VLC Photonics S.L.如何使用ficonTEC公司的測試設(shè)備提供PIC測試服務(wù)。

  網(wǎng)絡(luò)研討會概要內(nèi)容如下:

  由VLC Photonics S. L.公司首席執(zhí)行官I?igo Artundo介紹VLC的PIC晶圓級測試技術(shù),以及和ficonTEC之間進行對話形式的答疑。

  第一部分:PIC測量需求和課題

  第二部分:VLC的PIC測量解決方案(Automated Wafer-level Testing)

  第三部分:用于端面耦合PIC測試的Wafer-Level Test技術(shù)

  第四部分:答疑

  如果您有任何關(guān)于網(wǎng)絡(luò)研討會的內(nèi)容咨詢的話,請通過下面的 "E-mail" 或者電話聯(lián)系我們。

  Email: optosales.aj.ml@hitachi-hightech.com

  Tel: 0755-82029631


  掃碼深入了解產(chǎn)品信息



內(nèi)容來自:日立高新技術(shù)集團
本文地址:http://huaquanjd.cn//Site/CN/News/2022/02/22/20220222031506230261.htm 轉(zhuǎn)載請保留文章出處
關(guān)鍵字: 日立高新技術(shù) 測試設(shè)備 PIC
文章標題:光子集成回路Wafer Level Test網(wǎng)絡(luò)研討會(演講視頻分享)
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