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可編程光衰減器方案

摘要:8月8日,業(yè)界領(lǐng)先的光通信檢測(cè)設(shè)備和解決方案供應(yīng)商Dimension(www.dimension-tech.com)推出了系列POA可編程可調(diào)光衰減器模塊,配合Dimension的通用光學(xué)測(cè)試平臺(tái),能夠提供多通道高精度的光路衰減,可靈活編程設(shè)定自動(dòng)或者隨機(jī)衰減值,具有衰減精度高、波長(zhǎng)范圍廣、衰減范圍大、轉(zhuǎn)換速度快、重復(fù)性和線性度好等出色的性能,以及極好的易用性,為實(shí)驗(yàn)室或者要求苛刻的制造生產(chǎn)環(huán)境提供了一種測(cè)試和驗(yàn)證的理想解決方案。

  ICCSZ訊 高性能可調(diào)光衰減器是保證光通信設(shè)備或者光器件測(cè)試系統(tǒng)平穩(wěn)運(yùn)行的關(guān)鍵器件。2019年8月8日,業(yè)界領(lǐng)先的光通信檢測(cè)設(shè)備和解決方案供應(yīng)商Dimension(www.dimension-tech.com)推出了系列POA可編程可調(diào)光衰減器模塊,配合Dimension的通用光學(xué)測(cè)試平臺(tái),能夠提供多通道高精度的光路衰減,可靈活編程設(shè)定自動(dòng)或者隨機(jī)衰減值,具衰減精度高、波長(zhǎng)范圍廣、衰減范圍大、轉(zhuǎn)換速度快、重復(fù)性和線性度好等出色的性能,以及極好的易用性,為實(shí)驗(yàn)室或者要求苛刻的制造生產(chǎn)環(huán)境提供了一種測(cè)試和驗(yàn)證的理想解決方案。

  完全可編程的解決方案,支持聯(lián)網(wǎng)


  POA可調(diào)光衰減器可以通過(guò)網(wǎng)絡(luò)或USB接口控制和查看設(shè)備參數(shù),通過(guò)開放的API接口編程可以對(duì)設(shè)備進(jìn)行自動(dòng)或隨機(jī)的衰減值設(shè)定,通過(guò)Dimension的通用測(cè)試平臺(tái),可以很方便的集成Dimension的光源、光功率計(jì)、光開關(guān)等其他測(cè)試模塊搭建自動(dòng)化的測(cè)試和生產(chǎn)環(huán)境,特別適合自動(dòng)化產(chǎn)線或其他自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)。

  集成度高,衰減精度高,衰減范圍大,支持級(jí)聯(lián)功能


  POA系列產(chǎn)品衰減范圍為1.00dB~50dB,支持四通道同時(shí)衰減,兩通道級(jí)聯(lián)衰減范圍高達(dá)100dB以上,最小衰減精度為0.01dB,衰減范圍和衰減精度都可以滿足科研機(jī)構(gòu)、生產(chǎn)測(cè)試的要求。

  波長(zhǎng)范圍廣,支持任意波長(zhǎng)衰減

  單模1250nm~1650nm,多模830nm~1350nm波長(zhǎng)范圍內(nèi)支持任意波長(zhǎng)輸入,設(shè)備已經(jīng)過(guò)多波長(zhǎng)的衰減標(biāo)定,任意波長(zhǎng)的衰減準(zhǔn)確度高。

  控制形式多樣

  Dimension POA系列衰減器支持固定衰減值和時(shí)間延遲的遞減、遞增及編程自動(dòng)控制,滿足用戶的不同需求。設(shè)備采用安全可靠的工業(yè)設(shè)計(jì),可全天候工作,不需要額外人工維護(hù),自動(dòng)快速測(cè)試系統(tǒng)的理想選擇。

  平臺(tái)+模塊化設(shè)計(jì),擴(kuò)展性強(qiáng)


  Dimension的通用光學(xué)測(cè)試平臺(tái),提供了一整套的光學(xué)測(cè)試解決方案,包含雙槽位ALPHA測(cè)試平臺(tái)和11槽位OMEGA測(cè)試平臺(tái),可以兼容包含POA可調(diào)光衰減在內(nèi)的多種功能測(cè)試模塊,具有可熱插拔、可編程、可擴(kuò)展性強(qiáng)、易于維護(hù)和管理、綜合成本低等顯著優(yōu)勢(shì)。

  客戶后續(xù)可購(gòu)置其他功能模塊進(jìn)行功能擴(kuò)展,例如可以擴(kuò)展連接光開關(guān)、穩(wěn)定光源、插回?fù)p儀、誤碼儀、高速光功率計(jì)等功能測(cè)試模塊,可以實(shí)現(xiàn)對(duì)光器件等產(chǎn)品多種光學(xué)性能的一站式測(cè)試。

  產(chǎn)品規(guī)格


  備注:

  【1】測(cè)試波長(zhǎng),單模為1310/1550nm,多模為850/1300nm。

  【2】插入損耗和回波損耗測(cè)量值不包括連接器。

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