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全面高效評估Combo PON光器件的復(fù)雜光路性能

摘要:Combo PON器件內(nèi)部需要多個準(zhǔn)直透鏡以及多個濾波片才能完成兩發(fā)兩收的復(fù)雜光路設(shè)計,為了滿足XGPON的實際應(yīng)用場景,普賽斯推出一鍵Combo PON器件綜合測試系統(tǒng),全面高效的評估Combo PON光器件的復(fù)雜光路性能。

       ICCSZ訊 寬帶作為經(jīng)濟發(fā)展基礎(chǔ)平臺的作用日益突出。為應(yīng)對不斷增長的高帶寬需求,運營商已普遍提供百兆以上業(yè)務(wù),并在部分地區(qū)開通千兆接入作為方向引領(lǐng)。解決GPON與XG-PON共存是下一代PON部署重點。XG-PON標(biāo)準(zhǔn)為ITU-T G.987系列,是下行10Gbit/s、上行2.5Gbit/s的非對稱模式。GPON和XGPON頻譜完全獨立,XGPON不能直接兼容GPON,實現(xiàn)GPON和XGPON的共存可通過合波方式將GPON升級到XG-GPON。采用光模塊合一的Combo PON方案,使GPON和10G GPON光波在一個光模塊內(nèi)進行雙通道合波后從同一光口輸出;進行10G GPON升級時,只需用Combo PON線卡替換原OLT上的GPON線卡,原GPON線卡上的光纖同步割接到Combo PON線卡上即可實現(xiàn)GPON和10G GPON的共存。

  目前Combo PON的光路大多采用高斯光束或單片準(zhǔn)直透鏡進行的準(zhǔn)直光路,光器件的光學(xué)設(shè)計復(fù)雜,而且由于光束需要通過較多的角度濾光片,功率損耗過大,復(fù)雜光路的隔離和串?dāng)_成為測試難點,兩發(fā)兩收的測試效率也制約了生產(chǎn)制造的產(chǎn)能。

  上圖所示,Combo PON器件內(nèi)部需要多個準(zhǔn)直透鏡以及多個濾波片才能完成兩發(fā)兩收的復(fù)雜光路設(shè)計,為了滿足XGPON的實際應(yīng)用場景,要充分評估兩個發(fā)射波長對不同接收的內(nèi)部光串?dāng)_,這對PON系統(tǒng)尤為重要。

  普賽斯結(jié)合Combo PON測試難點,推出一鍵Combo PON器件綜合測試系統(tǒng),模擬器件真實應(yīng)用場景,30秒一鍵完成兩發(fā)兩收的近30多種綜合參數(shù)的測試,包括DML發(fā)射和EML發(fā)射,以及雙接收的靈敏度測試,配套專利的測試夾具,能夠支持復(fù)雜光路的內(nèi)部串?dāng)_測試,測試效率高,設(shè)備集成度高,全面高效的評估Combo PON光器件的復(fù)雜光路性能,幫助生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品性能和測試效率。

內(nèi)容來自:普賽斯電子
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文章標(biāo)題:全面高效評估Combo PON光器件的復(fù)雜光路性能
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