MultiLane TIA及RF driver芯片測試方案

  ICC訊 跨阻放大器（TIA）及RF driver芯片不論今天還是未來都是光模塊輸出信號(hào)質(zhì)量好壞的重要器件。對于TIA、RF driver的特性的測量包括頻域和時(shí)域，傳統(tǒng)的測試方法會(huì)使用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀或采樣示波器等方式來進(jìn)行3dB帶寬、線性度和設(shè)備噪音等的測量，這些測試方法通道數(shù)量有限對于多通道TIA測量不得不多次切換通道影響測試效率，同時(shí)這種配合也價(jià)格不菲。

  MultiLane根據(jù)客戶的需求開發(fā)了TIA芯片測試套件即減少了測試時(shí)間也提高了測試效率，并能保證測試的準(zhǔn)確性。在實(shí)驗(yàn)室的應(yīng)用當(dāng)中，ML4035集誤碼儀、采樣示波器及網(wǎng)分功能三為一體的4通道多用途高速測試設(shè)備，可稱之為高速信號(hào)測量的萬用表。

  當(dāng)測量TIA或RF Driver時(shí)，可通過S參數(shù)測量功能測試信號(hào)鏈路的損耗，如射頻線纜、PCB trace、連接器等。同時(shí)將S參數(shù)代入后進(jìn)行實(shí)際的S參數(shù)測量，得到正確的Sdd21 vs Gain/3dB Bandwidth。在給定的范圍內(nèi)，可變增益放大器和TIA的輸出隨著輸入線性變化，一些RF放大器和TIA具有帶寬控制輸入，必須對其影響進(jìn)行分析。

  ML4035還可以根據(jù)客戶的不同需求分析，阻抗、回?fù)p等相關(guān)的頻域特性參數(shù)。

  THD作為TIA的重要指標(biāo)，可以通過ML4035的PPG產(chǎn)生正弦波，經(jīng)過TIA后通過采樣示波器的頻域轉(zhuǎn)化測量功能測量THD的數(shù)值。

  線性度RLM及Noise的測量同樣可以通過BERT及采樣示波器的功能，進(jìn)行基于IEEE802.3的RLM進(jìn)行測量，沒有任何輸入的TIA真實(shí)noise測量。作為一個(gè)多功能的解決方案除了能滿足各類TIA、RF Driver的實(shí)驗(yàn)室參數(shù)測量，產(chǎn)線測試速度也是ML4035的一大特點(diǎn)，通過API編程只要4、5秒的時(shí)間就能完成帶寬、THD和noise的測量。

  同時(shí)，MultiLane還提供ATE測試方案，可對TIA、RF driver、SerDes及計(jì)算機(jī)相關(guān)高速接口進(jìn)行晶圓等級(jí)的測試，可以同時(shí)進(jìn)行32個(gè)通道的測量，大大的增加了測試的吞吐量。

  在TIA及RF Driver芯片上，MultiLane不論在實(shí)驗(yàn)室還是芯片產(chǎn)測都為用戶提供了不同方案的可能，迅速提高客戶的研發(fā)及生產(chǎn)速度。

  如需了解更多關(guān)于TIA、RF Driver或高速I/O的實(shí)驗(yàn)室及芯片產(chǎn)測方案可以聯(lián)系深圳市唐領(lǐng)科技有限公司，0755-23917251，sales@te-lead.com。