昊衡科技推出光學(xué)矢量分析系統(tǒng)

  ICC訊 昊衡科技專注于高端光學(xué)測(cè)量與傳感測(cè)試系統(tǒng)研發(fā)和解決方案開發(fā)，擁有OFDR核心技術(shù)，并成功推出OCI通信系列、OSI傳感系列等多款OFDR商用產(chǎn)品。近期昊衡科技發(fā)布重磅新品---OCI-V光學(xué)矢量分析系統(tǒng)。

  圖1 OCI-V 設(shè)備圖

  隨著高速光通信發(fā)展，光器件種類多、迭代快，對(duì)測(cè)量?jī)x要求更高。而在新興平面光波導(dǎo)和硅光芯片領(lǐng)域，其對(duì)儀表測(cè)量精確性、穩(wěn)定性和操作便利性等各方面提出前所未有的挑戰(zhàn)。OCI-V光學(xué)矢量分析系統(tǒng)能夠同時(shí)測(cè)量光學(xué)網(wǎng)絡(luò)損耗、偏振、色散等信息，分析光器件在寬譜、精細(xì)波長(zhǎng)下的損耗和時(shí)延。其功能強(qiáng)大、操作方便，在光器件的研發(fā)、生產(chǎn)全過程中發(fā)揮重要作用，為改善設(shè)計(jì)、優(yōu)化結(jié)構(gòu)和評(píng)估工藝等提供可靠依據(jù)。

  OCI-V光學(xué)矢量分析系統(tǒng)，原理是采用線性掃頻光源對(duì)待測(cè)器件進(jìn)行掃描，并結(jié)合相干檢測(cè)技術(shù)獲取待測(cè)器件的瓊斯矩陣，進(jìn)而獲得器件插損(IL)、色散(CD)、偏振相關(guān)損耗(PDL)、偏振模色散(PMD)等多項(xiàng)光學(xué)參數(shù)。系統(tǒng)測(cè)量長(zhǎng)度200m，可工作在C+L或O波段，具有測(cè)量范圍大、波長(zhǎng)范圍寬、覆蓋器件廣、測(cè)量參數(shù)多等優(yōu)勢(shì)。

  傾斜光柵的PDL測(cè)量圖

  硅光芯片的PMD測(cè)量圖

  HCN 吸收室的IL測(cè)量圖

  啁啾光柵的GD測(cè)量圖

  OCI-V系統(tǒng)采用獨(dú)特光路設(shè)計(jì)以及先進(jìn)算法，進(jìn)行智能校準(zhǔn)，測(cè)量穩(wěn)定性好，操作簡(jiǎn)單，可極大節(jié)省測(cè)試時(shí)間。

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