用戶名: 密碼: 驗證碼:

重大突破!盛為芯成功研發(fā)首個全球領(lǐng)先的DFB和EML測試解決方案

摘要:基于技術(shù)先導、測試效率提升、成本優(yōu)化等方面考慮,歷經(jīng)1年的反復探索和研究,盛為芯團隊成功研發(fā)了集芯片常高溫和低溫性能測試、AOI自動光學檢測、發(fā)散角測試功能于一體的盛為芯第六代芯片測試機,突破了設備的單一功能限制,實現(xiàn)了測試設備多項功能的智能化、集成化、迭代化和國產(chǎn)化。

  ICC訊 基于技術(shù)先導、測試效率提升、成本優(yōu)化等方面考慮,歷經(jīng)1年的反復探索和研究,盛為芯團隊成功研發(fā)了集芯片常高溫和低溫性能測試、AOI自動光學檢測、發(fā)散角測試功能于一體的盛為芯第六代芯片測試機,突破了設備的單一功能限制,實現(xiàn)了測試設備多項功能的智能化、集成化、迭代化和國產(chǎn)化。

  多功能集成

      靈活的測試解決方案

  盛為芯提供更加靈活的測試解決方案,實現(xiàn)單溫測試時間控制在4秒,比傳統(tǒng)轉(zhuǎn)盤式方案測試效率提高20%以上。盛為芯LD芯片常高溫測試已累計3億顆,LD芯片低溫測試和EML芯片測試已累計1000萬顆,OCR識別已累積超5000萬顆。

  獨家AOI和發(fā)散角測試集成功能

  盛為芯全球獨家提供AOI功能和發(fā)散角測試功能的光芯片測試集成解決方案,為光芯片實現(xiàn)100%發(fā)散角功能測試,AOI自動光學檢測可覆蓋脊波導發(fā)光區(qū)2μm范圍,四面檢驗并識別芯片發(fā)光條異常、臟污、鈍化層脫落多類型外觀缺陷和20多種字體,良率高達99.5%以上。

  功能集成,降本增效

  盛為芯集芯片常高溫和低溫性能測試、AOI自動光學檢測、發(fā)散角測試功能于一體的測試解決方案,將光芯片測試效率綜合提高一倍,測試成本綜合降低50%以上,在加強盛為芯和客戶競爭力的同時,更為我國25G DFB和10G EML高端光芯片打破國外限制、實現(xiàn)快速量產(chǎn)提供助力。

  盛為芯科技

  成立于2016年的盛為芯科技是國內(nèi)首家專業(yè)提供光通信和光傳感領(lǐng)域的中高端芯片后工藝解決方案的公司,擁有機械、電子、自動化、軟件算法、光器件等多學科的集成研發(fā)成果,在智能化高精度機器視覺識別分析、運動控制精度、高精度測試封裝工藝等方面擁有多項核心技術(shù),是國內(nèi)唯一一家25G EML、56G EML、3D傳感VCSEL、激光雷達等光芯片技術(shù)解決方案得到行業(yè)尖端客戶認可的企業(yè)。公司擁有1700平千級凈化生產(chǎn)車間,4條配備了先進設備的產(chǎn)品線。2019年,盛為芯在美國西雅圖成立全資子公司,利用美國光電子先進的技術(shù)和豐富的人才資源進行新一代技術(shù)的研發(fā)。

內(nèi)容來自:盛為芯
本文地址:http://huaquanjd.cn//Site/CN/News/2021/12/03/20211203012826046869.htm 轉(zhuǎn)載請保留文章出處
關(guān)鍵字: 盛為芯
文章標題:重大突破!盛為芯成功研發(fā)首個全球領(lǐng)先的DFB和EML測試解決方案
【加入收藏夾】  【推薦給好友】 
1、凡本網(wǎng)注明“來源:訊石光通訊網(wǎng)”及標有原創(chuàng)的所有作品,版權(quán)均屬于訊石光通訊網(wǎng)。未經(jīng)允許禁止轉(zhuǎn)載、摘編及鏡像,違者必究。對于經(jīng)過授權(quán)可以轉(zhuǎn)載我方內(nèi)容的單位,也必須保持轉(zhuǎn)載文章、圖像、音視頻的完整性,并完整標注作者信息和本站來源。
2、免責聲明,凡本網(wǎng)注明“來源:XXX(非訊石光通訊網(wǎng))”的作品,均為轉(zhuǎn)載自其它媒體,轉(zhuǎn)載目的在于傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點和對其真實性負責。因可能存在第三方轉(zhuǎn)載無法確定原網(wǎng)地址,若作品內(nèi)容、版權(quán)爭議和其它問題,請聯(lián)系本網(wǎng),將第一時間刪除。
聯(lián)系方式:訊石光通訊網(wǎng)新聞中心 電話:0755-82960080-168   Right